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材資系高階貴重儀器,場發射掃描式電子顯微鏡上線

 

材資系高階貴重儀器

場發射掃描式電子顯微鏡上線

 

材資系 陳貞光教授

材資系於108年11月甫以近千萬元購入的冷場發射掃描式電子顯微鏡,經過設備的裝設、驗收、訓練以及試用,自本學期起已經納入本校貴重儀器管理正式上線接受委託,並設有專人管理與訓練,歡迎校院內對於無揮發性、無磁性的材料有奈米級分析需求的研究團隊,委託使用( https://sites.google.com/view/ntuttemservice/ )。

本設備係臺北科大唯一冷場發射源掃描式電子顯微鏡,與校內其他兩台熱場發射源掃描式電子顯微鏡不同;冷場發射源設備在低電壓下仍能保有高解析度、燈絲更換頻率較少、樣品更換時間短、適合大量使用與化學分析,故在科技業界更常被選用,本系此次採購設備亦為全台各大學所購置的第一部同型設備。

本設備對於研究產出與幫助甚鉅,該設備在材資系長年以來的完善管理以及A、B、C等級的使用人員規範下,得以24小時操作,預期將能發揮該設備的最大效能,也提供部分時間接受工程學院以及校內委託。本次設備採購要特別感謝材資系教育基金會校友捐助部分經費,幫助母校採購研發所需設備。

下圖顯示本貴重儀器應用於觀察鈦基板表面所製作的奈米管切面結構。(圖文 – 陳貞光/吳玉娟)

材料研發的利器 - 冷場發射源掃描式電子顯微鏡

材料研發的利器 - 冷場發射源掃描式電子顯微鏡

鈦基板奈米管柱上視圖,管柱直徑約135nm

鈦基板奈米管柱上視圖,管柱直徑約135nm

鈦基板奈米管柱側視圖,奈米管柱高約425nm

鈦基板奈米管柱側視圖,奈米管柱高約425nm

 

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